老化衰減, 光致衰減(LID), 熱輔助光致衰減 (LeTID), 以及電勢(shì)誘導(dǎo)衰減(PID)是光伏組件的四種衰減機(jī)理，它們都會(huì)影響單晶硅電池結(jié)構(gòu)的組件（例如PERC，PERT）發(fā)電性能。其中LID和LeTID是業(yè)內(nèi)的關(guān)注重點(diǎn)，LID的形成主要是由于太陽(yáng)能電池收到光照后產(chǎn)生的硼氧復(fù)合體會(huì)降低少數(shù)載流子的壽命，導(dǎo)致功率下降。而LeTID則是在高溫條件下，輔助光照導(dǎo)致電池效率降低的現(xiàn)象。

P型PERC組件因其?藝性質(zhì)極易受到LID和LeTID的威脅，而N型電池以摻雜磷原子的N型硅片作為襯底，硼氧復(fù)合體少，LID和LeTID對(duì)其的影響微乎其微，這也是業(yè)界需要轉(zhuǎn)向N型技術(shù)的重要原因之?。為了進(jìn)一步研究N型TOPCon的衰減模式，TÜV北德對(duì)組件進(jìn)?了可靠性測(cè)試。

測(cè)試方法

為了比較N型組件和P型組件的可靠性，測(cè)試序列如下

評(píng)估老化衰減的測(cè)試：

冷熱循環(huán)TC 200（IEC 61215, - 40°C 至 85°C，200次循環(huán)）/400（2倍加嚴(yán)）/600（3倍加嚴(yán)）

濕熱DH 1000（IEC 61215，溫度85°C，相對(duì)濕度85%， 1000小時(shí)）/2000（2倍加嚴(yán)）/3000（3倍加嚴(yán)）

機(jī)械性能序列（靜載 SML+動(dòng)載DML+冷熱循環(huán)TC50+濕凍循環(huán)HF10）

加嚴(yán)紫外老化UV90（IEC 61215, IEC TR 63279）

評(píng)估光致衰減的測(cè)試 (LID/LeTID)：LID 60kWh（IEC 61215 要求為5kWh穩(wěn)定，IEC 63202-1要求為針對(duì)LID評(píng)估至少20kWh以上）、LeTID 192h

評(píng)估電勢(shì)誘導(dǎo)衰減的測(cè)試（PID）：PID 96（IEC 61215）/192（2倍加嚴(yán)）/288 （3倍加嚴(yán)）

測(cè)試結(jié)果與分析：

根據(jù)測(cè)試結(jié)果，N型組件在可靠性測(cè)試中表現(xiàn)優(yōu)異，其衰減率均遠(yuǎn)遠(yuǎn)低于IEC的5%標(biāo)準(zhǔn)，并且衰減率在同一測(cè)試條件下均優(yōu)于P型組件。尤其是在TC、PID和DH基礎(chǔ)和加嚴(yán)測(cè)試序列中的表現(xiàn)優(yōu)異。

在60KWh/m2的光照條件下， N型TOPCon組件的LID衰減僅為0.26%，而PERC組件在相同條件下的衰減率為1.92%。LeTID測(cè)試中，N型TOPCon組件的功率衰減僅為0.09%，遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于PERC組件1.17%。

UV測(cè)試中，N型TOPCon組件和PERC組件在經(jīng)受了90KWh/m2的紫外線照射后，其功率衰減分別為0.60%和2.21%，外觀均無(wú)變化。

以上測(cè)試結(jié)果充分證明了N型組件的可靠性強(qiáng)，這得益于品質(zhì)優(yōu)異的N型硅?和帶來(lái)更高效率的TOPCon電池技術(shù)，削弱了由B-O復(fù)合缺陷引起的LID，帶來(lái)了更?的少?壽命。

此外，N型組件通過采?優(yōu)異的邊框、玻璃、POE封裝材料，具有出?的抗?化和抗PID性能，進(jìn)?步提?了組件機(jī)械性能和抗水汽滲透能力。

測(cè)試結(jié)論：

TÜV 北德測(cè)試結(jié)果表明， N型TOPCon組件即使在嚴(yán)苛的環(huán)境下，依然保持強(qiáng)大的可靠性和穩(wěn)定性。這使得N型組件成為更可靠和持久的太陽(yáng)能發(fā)電解決方案，選擇N型成為目前電站選型的不二之選。